ASTM F676-1997(2003) 测量不饱和的晶体管逻辑电路吸收电流的试验方法
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时间:2024-04-28 21:16:59
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringUnsaturatedTTLSinkCurrent
【原文标准名称】:测量不饱和的晶体管逻辑电路吸收电流的试验方法
【标准号】:ASTMF676-1997(2003)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.11
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:电流;消费者;测量;电子工程
【英文主题词】:hardnessassurance;neutrondegradation;sinkcurrent;transistor-transistorlogic(TTL)
【摘要】:UnsaturatedsinkcurrentisaspecialparameterthatiscloselyrelatedtothegainoftheoutputtransistorofTTLcircuits.ThisparameterisparticularlyusefulinevaluatingneutrondegradationinTTLdevicesbecauseitchangessmoothly
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:
【原文标准名称】:测量不饱和的晶体管逻辑电路吸收电流的试验方法
【标准号】:ASTMF676-1997(2003)
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1997
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.11
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:电流;消费者;测量;电子工程
【英文主题词】:hardnessassurance;neutrondegradation;sinkcurrent;transistor-transistorlogic(TTL)
【摘要】:UnsaturatedsinkcurrentisaspecialparameterthatiscloselyrelatedtothegainoftheoutputtransistorofTTLcircuits.ThisparameterisparticularlyusefulinevaluatingneutrondegradationinTTLdevicesbecauseitchangessmoothly
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:
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